پرش به محتوا
آرال تجهیز آزما
ساعت کاری : ۹ صبح تا ۵ بعد از ظهر (روزهای غیر تعطیل)
تلفن: ۴۴۱۲۴۵۴۲-۰۲۱
خانه
درباره ما
تجهیزات آزمایشگاهی
میکروسکوپی (Microscopy)
میکروسکوپی پروبی روبشی (SPM)
میکروسکوپی الکترونی روبشی (SEM)
میکروسکوپی الکترونی عبوری (TEM)
میکروسکوپی فلورسانس (MF)
کروماتوگرافی (Chromatography)
کروماتوگرافی گازی (GC)
کروماتوگرافی یونی (IC)
کروماتوگرافی مایع با کارایی بالا (HPLC)
کروماتوگرافی گازی- طیف سنجی جرمی (GC-MS)
کروماتوگرافی مایع- طیف سنجی جرمی (LC-MS)
آنالیز حرارتی (Thermal Analysis)
آنالیز حرارتی مکانیکی (TMA)
آنالیز حرارتی همزمان (STA)
آنالیز حرارتی تفاضلی (DTA)
کالریمتری اسکن تفاضلی (DSC)
آنالیز وزن سنجی حرارتی (TGA)
آنالیز حرارتی مکانیکی دینامیکی (DMA)
آنالیز سطح (Surface Analysis)
آنالیز جذب و دفع با برنامه دمایی (TPO-TPD-TPR)
اندازه گیری سطح ویژه (BET)
آنالیز عنصری (Elemental Analysis)
آنالیز عناصر C H N O S
طیف سنجی جذب اتمی (AAS)
طیف سنجی نشر اتمی (AES)
طیف سنجی نشر نوری- پلاسمای کوپل شده القایی (ICP-OES)
پلاسمای کوپل شده القایی- طیف سنجی جرمی (ICP-MS)
طیف سنجی نشر نوری با تخلیه الکتریکی (GD-OES)
آنالیز اندازه ذرات (Particle Size Analysis)
اندازه گیری پتانسیل زتا (Z)
آنالیز پراکندگی نوری دینامیکی (DLS)
آنالیز پراکندگی نوری استاتیکی (SLS)
طیف سنجی مادون قرمز (Infrared Spectroscopy)
آنالیز طیف سنجی مادون قرمز (IR)
آنالیز طیف سنجی مادون قرمز تبدیل فوریه (FTIR)
طیف سنجی پرتو ایکس (X-ray spectroscopy)
طیف سنجی تفرق پرتو ایکس (XRD)
طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF)
طیف سنجی فتوالکترون پرتو ایکس (XPS)
طیفسنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)
پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک (SAXS)
طیف سنجی رزونانس مغناطیسی هسته (NMR)
طیف سنجی رزونانس مغناطیسی هسته (NMR)
خدمات
مشاوره فنی و تخصصی
ساخت تجهیزات
نصب و راه اندازی
تعمیر و نگهداری
کالیبراسیون
استانداردسازی
